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如何利用拉曼光谱仪采集荧光寿命曲线,荧光寿命成像及拟合 How to use Raman spectrometer to collect decay curve, fluorescence lifetime imaging and data fitting

浏览量:时间:2021-09-18

【光谱实验室:陈中博士 撰文】
【仪器设备:快速成像显微拉曼光谱仪】
【地点:4号楼220室 光谱实验室】


如何在WITec 拉曼上采集荧光寿命曲线,荧光寿命成像及拟合。

桌子上放了不同类型的电子产品低可信度描述已自动生成

荧光寿命成像专用激光器


1. 如上图所示,打开荧光寿命成像专用的405nm 激光器,打开钥匙【ON】,预热5-10分钟,根据下表,在【TRIGGER】和【REP.FREQUENCY】的组合中选中所需的激光器的重频,将重频的对应值输入至软件中【Laser Repetition Rate [MHz]】的框内。


Oscillator

INT1

INT2

1

80MHz

1MHz

2

40MHz

500kHz

4

20MHz

250kHz

8

10MHz

125kHz

16

5MHz

62.5kHz

32

2.5MHz

31.25kHz



图形用户界面, 应用程序描述已自动生成

拉曼显微镜的光路图

2. 将拉曼显微镜的光路图调成如图的位置

3. 在软件中的主菜单最上面一栏 【Configurations】中下拉至 【Time  Resolved  Microscopy】

4. 在软件中【Time spectrograph】,设置参数,其中【Start Time】根据需要设置 ,一般设为3ns;【Time Bins】越高,采点数越密;【Time Bining】与时间窗口有关,设置为1时,时间窗口为15 ns,设置为N时,窗口为(15*N) ns。

5. 【Calibrate】校准步骤:

(1)先将激光器的【Shutter】旋扭顺时针旋至最小,同时在软件上将LED灯打开,亮度调到最低。【Calibrate】是利用LED灯的关源做的,所以执行过程中一定要保证LED灯打开

(2)打开【Oscilloscope】,【Integration Time】设为【0.1s】,逆时针慢慢调节【Shutter】旋扭,观察频率窗口,所调频率不能超过激光重频的1%(弱荧光样品Shutter全开也不会超过1%),否则有可能饱和,如果不小心将信号调节过强, 则探测器饱和,此时信号消失,需在【Detection】处点击【reset on】 复位。 在【Oscilloscope】预扫过程中,可以修改【Time spectrograph】内各项参数,直至合理。

(3)点击【Calibrate】,稳定2分钟左右,点击【SAVE】可保存此参数文件。

6. 荧光寿命单谱采谱和寿命拟合:

(1)在【Single spectrum】 设置好积分时间和积分次数后直接采谱,采集到寿命曲线如下图所示。

(2)将采集的单谱直接拖拽至【fittings】处,依次选择【Exponential】-【ExDecay】,然 后在曲线上按住【Shift】键将上升沿部分去掉,只拟合从最高点衰减的曲线。【Advanced  Mode】可以显示更多参数,在【Fit Parameters】处观察是否有【Fit Successful】出现,此 时的 t值即为寿命值,点击【Fit and Extract All】, 提取所有曲线和寿命信息。

荧光寿命曲线


7. FLIM 荧光寿命成像

(1) 在【Oscilloscope】预扫时确定好【Integration Time】的数值,保证在此数值下能看到衰减曲线

(2)  在【Image scan】(区域<30um) 或者【Large Area Scan】的菜单下点开【Geometry】, 在【Listen Position】的下拉菜单在Video图像上选择成像区域,然后在【Points per line】和【Lines per Image】确定扫描点数,点击【Start Scan】或者【Start Large Area Scan】进行荧光寿命成像扫描,扫描的过程中会自动生成【Time Spectrograph】和【Time Spectrograph Count Rate】后缀的图像文件。

(3)成像拟合:扫完后生成【Time Spec.Ch 0】为后缀的文件,将此文件直接拖拽至【fittings】处,用鼠标在 【Time Spectrograph】和【Time Spectrograph Count Rate】的图像内移动,观察是否每个位置都是【Fit Successful】,然后点击【Fit and Extract All】导出四幅 图像 【Fit ExpDecay: y0】; 【Fit ExpDecay: x0】; 【Fit ExpDecay:Amp】; 【Fit ExpDecay: t】, 其中【Fit ExpDecay: t】为FLIM成像图,如下图所标, 荧光寿命成像所受测试条件变化的影响小,容易反映出样品的性质。

图片包含 游戏机, 食物, 星星, 显示器描述已自动生成

荧光光谱成像(左)和荧光寿命成像(右)