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高分辨薄膜X射线衍射仪High Resolution Thin-Film X-ray Diffractometer(HRXRD)

浏览量:时间:2019-08-09

类型

项目

细则

校内收费

校外收费

说明

自主上机

常规测试

需预约并经过培训和考核

300/

/

/

委托测试

Rocking Curve

单一图谱,每30min;不足30min30min

180/

360/

/



面外2Theta-Omega Scan

单一图谱,每30min;不足30min30min

180/

360/

XRR

单一图谱,每30min;不足30min30min

240/

480/

XRR分析

XRR数据拟合分析

300/

400/

微区XRD

单一图谱,每30min;不足30min30min

180/

360/

GID

单一图谱,每30min;不足30min30min

240/

480/

Phi Scan

Phi扫描单一图谱,每30min;不足30min30min

240/

480/

skew scan

单一图谱,每30min;不足30min30min

240/

480/

面内2Theta/Omega Scan

面内2Theta/Omega Scan

240/

480/

RSM

单点倒易空间mapping单一图谱,每30min;不足30min30min

240/

480/

培训

仪器培训

一对一/一对二培训;同等内容的第二次培训,收费1.5

450/

/

/



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