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微结构与形貌表征实验室

高分辨薄膜X射线衍射仪High Resolution Thin-Film X-ray Diffractometer(HRXRD)

仪器编号:

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联系方式:

地址:

开放范围:

  • 正常运行

  • 技术资料:高分辨薄膜X射线衍射仪的标准操作流程

    SOP-of-HRXRD-V4.pdf






  • 类型

    项目

    细则

    校内收费

    校外收费

    说明

    自主上机

    常规测试

    需预约并经过培训和考核

    300/

    /

    /

    委托测试

    Rocking Curve

    单一图谱,每30min;不足30min30min

    180/

    360/

    /



    面外2Theta-Omega Scan

    单一图谱,每30min;不足30min30min

    180/

    360/

    XRR

    单一图谱,每30min;不足30min30min

    240/

    480/

    XRR分析

    XRR数据拟合分析

    300/

    400/

    微区XRD

    单一图谱,每30min;不足30min30min

    180/

    360/

    GID

    单一图谱,每30min;不足30min30min

    240/

    480/

    Phi Scan

    Phi扫描单一图谱,每30min;不足30min30min

    240/

    480/

    skew scan

    单一图谱,每30min;不足30min30min

    240/

    480/

    面内2Theta/Omega Scan

    面内2Theta/Omega Scan

    240/

    480/

    RSM

    单点倒易空间mapping单一图谱,每30min;不足30min30min

    240/

    480/

    培训

    仪器培训

    一对一/一对二培训;同等内容的第二次培训,收费1.5

    450/

    /

    /



  • 送样要求:

    1- 不测试有毒性、腐蚀性样品;

    2- 块状样品要求:测试面清洁平整,也可是板状、片状,带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状,厚度≤1mm,直径≤2cm。

    3- 对于测反射率的样品,一般要求样品大于10mm*10mm,且薄膜的厚度小于100nm。

    4- 告知测试的起始角度及测试内容,2θ角扫描范围须在1°~100°之间;

    5- 易变质样品需提前与XRD负责人联系,预约测试时间,请注明样品保存条件,如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。


    预约说明:

    1- 该仪器实行24h*7d预约及测试样品;

    2- 该仪器可提前1-14天预约,最短预约单元为10min;

    3- 如若取消预约,应至少提前2h联系XRD负责人;





  • 正常运行