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光谱实验室

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X射线吸收精细结构谱仪 X-ray Absorption Fine Structure Spectrometer

仪器编号：

联系人：陈中/卢星宇

联系方式：18998382617/18658800801

地址：西湖大学（云谷校区）E10-141

开放范围：自主操作：校内；委托测试：校内、校外 Independent-operation ：Internal ； Commissioned Service ：Internal/External

机时预约 送样检测
仪器详细信息 样品要求 收
  • 仪器编号
    		规格
    生产厂家 Anhui Absorption Spectroscopy AnalysisInstrument Co, Ltd. 型号 Rapid 2M
    制造国家 中国 分类号
    放置地点 E10-141 出厂日期 2024/06/17
    购置日期 2024/06/17 入网时间 2025/01/09
    主要规格及技术指标 1、XAFS测试模式能量分辨率：XANES: 0.5-1.5 eV，EXAFS:1.5-10eV
    2、XAFS测试使用X射线源：采用1.6KW高功率X射线光源，X射线源冷却方式为水冷，光通量可达：≥2,000,000 photons/sec@8Kev
    3、XAFS测试使用X射线源X射线光源最大加速电压不低于40 keV, 最大电流不低于40 mA
    4、单色器晶体：配置11块球面弯曲的晶体，曲率半径为0.5 m，实现工作能量范围内各个元素的最优分辨
    5、布拉格角范围：55-85°
    6、探测器：采用高能量分辨大面积 SDD，铍窗厚度不大于 25μm，有效探测面积不小于 150 mm2
    7、配置新电子学：配备新电子学计数器，满足高光通量需求，实现最高4M的计数率，降低探测器死时间，提高探测器效率获得更好的信噪比。
    8、具有2种荧光测试模式：配备透射式和反射式两种荧光模式，反射式配备相应快接模块，实现两种荧光测试模式的切换。
    9.1、透射荧光模式可实现：1%的样品在透射荧光模式采集，3小时采集近边数据，10小时可采集扩展边数据。
    9.2、透射式荧光模式测试下样品荧光接收立体角大于40%
    10、配备高性能X射线发射谱(XES)测试模式，采用XES专用X射线源而非与XAFS兼用X射线源避免削弱XAFS测试性能。XES采用端窗型W靶X射线管，功率100W
    11.1、X射线发射谱(XES)模式能量分辨率：≤2.0 eV (7~9 keV)
    11.2、X射线发射谱(XES)核心-空穴生成速率≥ 10^11/s (7~9 keV)
    11.3、采用磁吸XES快速切换样品架
    12、设备实现全自动化控制，自动实现自动多点采集和多样品数据采集
    13、样品区空间>100mm,可以设计各种模块化的原位测试系统
    14、配置电催化原位池1个，实现电化学原位实验测试
    15、配置电池原位池1个，实现电池原位实验测试
    主要功能及特色 无需同步辐射光源即可实现XAFS测试，获得测试元素氧化态、电子结构、对称性、配位数、配置种类原子间距等信息


  • 5-15KeV的3d元素，5d元素，百分含量1%以上


  • 具体价格与技术员沟通